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BSRF上同步辐射深度光刻的实验研究
引用本文:彭良强,伊福廷,韩勇,张菊芳.BSRF上同步辐射深度光刻的实验研究[J].中国物理 C,2001,25(Z1):128-130.
作者姓名:彭良强  伊福廷  韩勇  张菊芳
作者单位:彭良强(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);伊福廷(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);韩勇(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);张菊芳(中国科学院高能物理研究所,北京,100039)
基金项目:国家攀登计划和中国科学院专项基金资助
摘    要:大结构深度和高深宽比是同步辐射深度光刻的突出优点.提出采用现有掩模,进行多次曝光、显影的方法,实验获得厚2.2mm的胶结构.系列研究掩模、光刻胶、基底、光谱和光强对深宽比的影响,实验获得深宽比104的胶结构.

关 键 词:同步辐射深度光刻  超深结构  高深宽比

Study on Synchrotron Radiation Lithography at BSRF
Abstract:
Keywords:
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