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| 场离子显微镜 | |
| 作者姓名： | 陆华 |
| 摘 要： | 一、历史的回顾场离子显微镜FieldIon Microscopc(FIM)是一种具有高放大倍数、高分辩率并能在原子级水准上直接观察表面原子的研究装置.它是由比它出现早15年的场发射显微镜Field Electron EmissionMicroscopc(FEM)的发明者E.W.Müller本人改进而成的. |
| 关 键 词： | 场离子显微镜 场蒸发 离化几率 气体原子 表面原子 原子像 吸附原子 蒸发场强 电子能级 电场 |
| 收稿时间： | 1988-05-17 |
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