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| 超快扫描探针显微术 | |
| 作者姓名： | 王云才 陈国夫 |
| 作者单位： | 中国科学院西安光学精密机械研究所，瞬态光学技术国家重点实验室 |
| 摘 要： | 将超短脉冲技术应用于扫描隧道显微镜、原子力显微镜等探测显微镜可以实现一种全新的测量实验技术。它同时具有超短脉冲的Ｐｓ级的时间分辨率和扫描探针显微术的原子线度的空间分辨率。本文给出了其理论基础，概述了业已取得的实验进展，指出了其广阔的应用前景。 |
| 关 键 词： | 超快 扫描探测显微术 快速电脉冲测量 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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