| 高分辨率电子能量损失谱在材料科学中的应用 |
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| 引用本文： | 王乙潜, 杜庆田, 丁艳华, 梁文双, 段晓峰. 高分辨率电子能量损失谱在材料科学中的应用[J]. 物理, 2010, 39(12): 839-843. |
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| 作者姓名： | 王乙潜 杜庆田 丁艳华 梁文双 段晓峰 |
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| 作者单位： | (1)青岛大学国家重点实验室培育基地 青岛 266071;(2)中国科学院物理研究所 北京凝聚态物理国家实验室 北京 100190 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金,山东省优秀中青年科学家科研奖励基金,山东省杰出青年基金,青岛大学引进人才科研启动基金 |
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| 摘 要： | 简要介绍了FEI Titan80—300STEM扫描透射电镜中装配的Wien-filter型能量单色器(monochromator).文章特别指出,装配有能量单色器的FEI Titan80—300STEM扫描透射电镜,可以直接给出高能量分辨率（~0.1eV）的电子能量损失谱.利用高分辨电子能量损失谱,在高能损失区,对于K或L能级自然宽度(natural width of energy level)小于0.5eV的元素,可以获得更细致的的近限精细结构（energy-loss near-edge structure）,更有利于解析其电子结构;在低能损失区,可以用于精确地确定半导体材料的带隙（bandgap）以及p型掺杂引起的带隙能的变化.
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| 关 键 词： | 高分辨电子能量损失谱 近限精细结构 半导体带隙 |
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