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基于条纹反射的光学表面疵病检测法
引用本文:赵文川,钟显云,刘彬. 基于条纹反射的光学表面疵病检测法[J]. 光子学报, 2014, 43(9): 912007
作者姓名:赵文川  钟显云  刘彬
作者单位:赵文川:中国科学院光电技术研究所, 成都 610209
钟显云:中国科学院光电技术研究所, 成都 610209
刘彬:中国科学院光电技术研究所, 成都 610209
基金项目:中国科学院“西部之光”人才培养计划“西部博士资助项目”(No.A12K015)和国家自然科学基金(No.61205007)资助
摘    要:提出一种基于条纹反射的光学表面疵病检测方法,检测系统由液晶显示屏、CCD相机和计算机组成.检测时在显示屏上分别显示水平和垂直两个方向正交的正弦性条纹,用CCD相机记录经被测表面反射的正弦条纹像,通过相移技术得到两个方向正交的相位分布和对比度分布,通过对比度分布确定被测表面的疵病位置.被测面表面面形相关信息包含在相位分布中,其表面疵病细节信息包含在局部微观相位分布之中.对相位分布进行多项式拟合后相减得到疵病引起的微观相位分布,计算得到表面疵病的梯度分布,积分得其高度分布.实验验证了该方法的可行性.

关 键 词:光学检测  表面检测  条纹反射  光学表面疵病  条纹处理
收稿时间:2013-12-16

The Surface Flaws Inspection of Optical Components Based on the Fringe Reflection
Abstract:
Keywords:Optical testing  Surface testing  Fringe reflection  Optics surface flaws  Fringe analysis
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