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感应耦合等离子体刻蚀p-GaN的表面特性
作者姓名:吕玲  龚欣  郝跃
作者单位:西安电子科技大学微电子学院,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安 710071
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973)项目(批准号:51327020301)资助的课题.
摘    要:研究了p-GaN材料经感应耦合等离子体(ICP)刻蚀后的表面特性,并用不同的方法对刻蚀表面进行处理.利用原子力显微镜(AFM)和X射线光电子能谱(XPS)对刻蚀样品进行分析,并在样品表面制作Ni/Au电极,进行欧姆接触特性的测试.实验结果表明了NaOH溶液处理表面对改善材料表面和欧姆接触特性是比较有效的. 关键词: GaN 感应耦合等离子刻蚀 表面处理 欧姆接触

关 键 词:GaN  感应耦合等离子刻蚀  表面处理  欧姆接触
文章编号:1000-3290/2008/57(02)/1128-05
收稿时间:2007-03-31
修稿时间:2007-06-21
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