| 相对论全腔轴向提取磁控管阳极释气数值模拟研究 |
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| 引用本文： | 杨郁林,董志伟,杨温渊.相对论全腔轴向提取磁控管阳极释气数值模拟研究[J].强激光与粒子束,2021,33(7):073004-1-073004-6. |
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| 作者姓名： | 杨郁林 董志伟 杨温渊 |
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| 作者单位： | 北京应用物理与计算数学研究所，北京 100094 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目（NSFC11875094） |
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| 摘 要： | 相对论电子轰击阳极产生二次电子和释气以及释气电离产生的击穿现象是限制全腔轴向提取透明阴极磁控管（TCMAC）工作性能的一个重要因素。本研究对TCMAC中轰击产生的阳极二次电子以及释气电离现象进行了物理建模以及三维数值模拟研究，考察了其对TCMAC运行性能的影响。初步计算结果表明，二次电子发射与阳极释气对TCMAC工作都有一定影响，释气后电离产生的正离子数大于系统中电子数时，会导致TCMAC击穿。
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| 关 键 词： | 全腔轴向提取磁控管 释气 电子碰撞激发 电离 |
| 收稿时间： | 2021-03-30 |
Research of physical modeling of all cavity axial extraction relativistic magnetron anode outgassing ionization |
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| Institution: | Institute of Applied Physics and Computational Mathematics, Beijing 100094, China |
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| Abstract: | The commutation phenomena produced by anode outgassing ionization and secondary electron emission are a possible factor to limit the performance of the transparent cathode relativistic magnetron with all cavity axial extraction (TCMAC). In this paper, physical modeling technology of the high-power microwave device TCMAC anode outgassing ionization phenomena and three-dimensional particle simulation are analyzed. The outgassing ionization and secondary electron emission can reduce the output power. When the number of positive ions is greater than that of electrons, the plasma caused by the ionization will make the microwave output power decline rapidly and cause system breakdown. |
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| Keywords: | |
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