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| 多检测GPC/SEC技术在高分子表征中的应用Ⅴ.PS-PI二嵌段共聚物 | |
| 作者姓名： | 黄怿 卜乐炜 郝磊 张德震 苏诚伟 徐种德 |
| 作者单位： | 华东理工大学材料工程学院,上海,200237;华东理工大学材料工程学院,上海,200237;华东理工大学材料工程学院,上海,200237;华东理工大学材料工程学院,上海,200237;华东理工大学材料工程学院,上海,200237;华东理工大学材料工程学院,上海,200237 |
| 摘 要： | 采用体积排斥色谱法/示差折光指数/直角激光光散射/示差粘度三检测联用技术表征PS-PI二嵌段共聚物.计算了共聚物的均方末端距 |
| 关 键 词： | 体积排斥色谱法 多检测器 表征 PS-PI共聚物 均方末端距 特性粘数 |
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