| 重温Pb(Zrx Ti1-x)O3铁电薄膜极化疲劳问题 |
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| 引用本文： | 刘俊明,王阳. 重温Pb(Zrx Ti1-x)O3铁电薄膜极化疲劳问题[J]. 物理, 2008, 37(5): 310-316 |
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| 作者姓名： | 刘俊明 王阳 |
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| 作者单位： | 南京大学物理系,固体微结构物理国家实验室,南京,210093;中国科学院国际材料物理研究中心,沈阳,110016 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金 , 国家重点基础研究发展计划(973计划) |
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| 摘 要： | 具有ABO3型钙钛矿结构的Pb(ZrxTi1-xO3(PZT)展示出良好的铁电极化性能,是使用最广的铁电材料.然而,在将它应用于铁电存储时,PZT薄膜遭遇到极化疲劳问题而被SrBi2Ta2O9(SBT)等铁电体所替代,这一问题至今未能得到妥善解决.文章首先通过变温极化疲劳实验充分理解PZT极化疲劳的基本过程,然后有针对性地进行材料设计,获得基本无极化疲劳的PZT铁电薄膜.
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| 关 键 词： | PZT铁电薄膜 极化疲劳 缺陷 长程迁移 铁电薄膜 极化疲劳 问题 ferroelectric fatigue Polarization 材料设计 过程 充分理解 疲劳实验 变温 替代 铁电体 铁电存储 应用 铁电材料 使用 极化性能 结构 钙钛矿 |
| 修稿时间： | 2007-12-18 |
Polarization fatigue of ferroelectric Pb (ZrxTi1-x)O3 thin films revisited |
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| LIU Jun-Ming,WANG Yang. Polarization fatigue of ferroelectric Pb (ZrxTi1-x)O3 thin films revisited[J]. Physics, 2008, 37(5): 310-316 |
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| Authors: | LIU Jun-Ming WANG Yang |
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