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提拉法制备铜单晶研究
引用本文:娄有信,王继扬,张怀金,李强.提拉法制备铜单晶研究[J].人工晶体学报,2011,40(3):563-566.
作者姓名:娄有信  王继扬  张怀金  李强
作者单位:山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100;清华大学化学系,北京,100084
摘    要:采用提拉法生长出大尺寸(111)铜单晶,晶体尺寸为ф(12~19)mm×85 mm.通过XRD、金相显微分析讨论了铜单晶的晶体结构与生长缺陷,并采用双臂电桥测定(111)铜单晶的电阻率.结果表明:晶体具有(111)取向、强度高,表明晶体取向良好;蚀坑呈典型三角锥形,位错密度在105~106 cm-2之间;在室温下,(111)铜单晶电阻率为1.289×10-8Ω·m.

关 键 词:铜单晶  提拉法  晶体生长  晶体缺陷  

Growth of Bulk Copper Single Crystal by Czochralski Technique
LOU You-xin,WANG Ji-yang,ZHANG Huai-jin,LI Qiang.Growth of Bulk Copper Single Crystal by Czochralski Technique[J].Journal of Synthetic Crystals,2011,40(3):563-566.
Authors:LOU You-xin  WANG Ji-yang  ZHANG Huai-jin  LI Qiang
Institution:LOU You-xin1,WANG Ji-yang1,ZHANG Huai-jin1,LI Qiang2(1.State Key Laboratory of Crystal Materials,Shandong University,Jinan 250100,China,2.Department of Chemistry,Tsinghua University,Beijing 100084,China)
Abstract:
Keywords:copper single crystal  Czochralski method  crystal growth  crystal defects  
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