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离子束作用下KDP晶体表面粗糙度研究
引用本文:舒谊,周林,戴一帆,沈永祥,解旭辉,李圣怡.离子束作用下KDP晶体表面粗糙度研究[J].人工晶体学报,2011,40(4):838-842.
作者姓名:舒谊  周林  戴一帆  沈永祥  解旭辉  李圣怡
作者单位:国防科技大学机电工程与自动化学院,长沙,410073
基金项目:国家自然科学基金重点项目(91023042)
摘    要:为了避免传统加工过程对KDP( Potassium dihydrogen phosphate)晶体表面产生损伤、嵌入杂质等降低晶体抗激光损伤阈值的不利因素,文章探索采用离子束抛光技术实现KDP晶体的加工.本文主要分析了离子束抛光作用下KDP晶体表面粗糙度的演变过程,采用垂直入射和倾斜45°入射两种方式研究KDP晶体表面粗糙度,利用倾斜45°入射的加工方式提高了KDP晶体的表面质量,其表面均方根粗糙度值由初始的3.07 nm减小到了1.95 nm,实验结果验证了离子束抛光加工KDP晶体的可行性.

关 键 词:KDP晶体  离子束抛光  表面粗糙度  

Study on Surface Roughness of KDP Crystal in Ion Beam Figuring
SHU Yi,ZHOU Lin,DAI Yi-fan,SHEN Yong-xiang,XIE Xu-hui,LI Sheng-yi.Study on Surface Roughness of KDP Crystal in Ion Beam Figuring[J].Journal of Synthetic Crystals,2011,40(4):838-842.
Authors:SHU Yi  ZHOU Lin  DAI Yi-fan  SHEN Yong-xiang  XIE Xu-hui  LI Sheng-yi
Institution:SHU Yi,ZHOU Lin,DAI Yi-fan,SHEN Yong-xiang,XIE Xu-hui,LI Sheng-yi (College of Mechanical Engineering and Automation,National University of Defense Technology,Changsha 410073,China)
Abstract:
Keywords:KDP crystal  ion beam figuring(IBF)  surface roughness  
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