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| 三波长K系数分光光度法同时测定痕量磷,砷,硅 | |
| 引用本文： | 王佩玉,蔡蕃.三波长K系数分光光度法同时测定痕量磷,砷,硅[J].分析化学,1998,26(9):1163-1163. |
| 作者姓名： | 王佩玉 蔡蕃 |
| 作者单位： | [1]扬州大学师范学院化学系 [2]扬州大学工学院基础科学系 |
| 摘 要： | １引言以碱性染料光度法同时测定磷、砷、硅已有报道，但需加入掩蔽剂或经还原－萃取等分离。本文用三波长Ｋ系数法原理，由计算机选出最佳波长组合，不经分离、掩蔽，于一份试液中同时测定痕量磷、砷、硅，其线性范围分别为４０．０～２４０．０μｇ／Ｌ、３２．０～１２０．０μｇ／Ｌ、３２．０～３２０．０μｄ／Ｌ。用于合成样品测定，结果令人满意。２实验部分２．１仪器与试剂７２２型光栅分光光度计。硅标准溶液：用高纯ＳｉＯ２（９９．９９％）以常法熔融配成ｐＨ约１．５的溶液，含硅０．１００ｇ／Ｌ；磷标准溶液：用ＫＨ２ＰＯ… |
| 关 键 词： | 磷 砷 硅 三波长K系数 分光光度法 测定 |
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