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| 薄膜材料光学参量的测量 | |
| 引用本文： | 王艳辉,段家忯,姚坤,童玉珍,张国义. 薄膜材料光学参量的测量[J]. 物理实验, 2000, 20(10): 13-15 |
| 作者姓名： | 王艳辉 段家忯 姚坤 童玉珍 张国义 |
| 作者单位： | 1. 大连理工大学物理系,116023 2. 北京大学物理系,100087 |
| 摘 要： | 介绍了薄膜材料光学参量测量实验的原理和方法以及对GaN膜的测量结果。 |
| 关 键 词： | 薄膜材料 光学参量 光谱仪 透过率 氮化镓 |
| 修稿时间： | 2000-07-05 |
The measurement for optical parameters of thin film material |
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| Wang Yanhui. The measurement for optical parameters of thin film material[J]. Physics Experimentation, 2000, 20(10): 13-15 | |
| Authors: | Wang Yanhui |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
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