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| 元件失效数据 | |
| 引用本文： | 叶秀宜.元件失效数据[J].数理统计与管理,1989(1):34-36. |
| 作者姓名： | 叶秀宜 |
| 摘 要： | 〔译者的话〕：电子设备的可靠性在很大程度上取决于元件的质量．原译文较全面地介绍了元件失效类型、影响失效的因素、失效率评估方法、环境试验等质量管理和数据分析内容，由于篇幅所限，对译文进行了裁剪、编辑，难免有不妥或疑义之处，敬请读者查阅原文予以指正． |
| 关 键 词： | 电子元件 失效数据 质量管理 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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