首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      


Grundlagen zur halbquantitativen Bestimmung der Elemente in der Laser-Mikrospektralanalyse. II
Authors:Helga Schroth
Institution:(1) Forschungslaboratorien der Siemens AG, München
Abstract:Zusammenfassung Für die folgenden Elemente wurden die Grundlagen für eine halbquantitative Konzentrationsbestimmung mit Hilfe des Laser-Mikrospektralanalysators ermittelt, und zwar differenziert für Untersuchungen an oxidischen und an metallischen(*) Materialien: Li, B, Na, P, K, Ca, Sc, Ti, V*, Ge, As*, Sr, Y, Zr*, Nb, Pd, Te, Ba, La, Ce, Nd, Eu, Gd, Er, Yb, Lu, Hf, Ta, W*, Ir, Pt*, Au, Hg*.
Principles of semi-quantitative determination of elements by laser-microspectroscopy. II
The principles for the semi-quantitative determination of the following elements by laser-microspectroscopy have been investigated separately for oxidic and metallic(*) materials: Li, B, Na, P, K, Ca, Sc, Ti, V*, Ge, As*, Sr, Y, Zr*, Nb, Pd, Te, Ba, La, Ce, Nd, Eu, Gd, Er, Yb, Lu, Hf, Ta, W*, Ir, Pt*, Au, Hg*.


Teil I: H. Schorth 3].
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号