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| 表面分析标准参考物质 | |
| 引用本文： | 罗兴华.表面分析标准参考物质[J].分析测试学报,1988(4). |
| 作者姓名： | 罗兴华 |
| 作者单位： | 中国上海测试中心 |
| 摘 要： | 表面分析是近十多年来迅速发展的新型分析技术。它被广泛应用于半导体、催化、冶金、腐蚀、钝化、涂膜、粘合、摩损以及晶体生长、渗杂、注入、外延等领域。据统计,表面分析技术已多达五十余种,其中最常用的是俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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