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ICP—AES中内标法的应用研究:Ⅲ.用内标法校正基体干扰
引用本文:郑建国,张展霞.ICP—AES中内标法的应用研究:Ⅲ.用内标法校正基体干扰[J].分析测试学报,1996,15(1):21-24.
作者姓名:郑建国  张展霞
摘    要:通过观测基体对分析元素发射强度的干扰情况,分析了扰机制,从而确定用来正基体干扰的内村元素与分析元素的匹配条件。实验结果表明,只要选择合适的内标元素,可以校正基体干扰。

关 键 词:ICP-ARS  内标法  基体干扰
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