| 氢氟酸直接进样-电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定氧化锆中多种杂质元素 |
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| 引用本文： | 李 剑,孙友宝,马晓玲,陈建立,黄涛宏,谷口 理,端 裕树.氢氟酸直接进样-电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定氧化锆中多种杂质元素[J].中国无机分析化学,2013,3(Z1):31-32. |
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| 作者姓名： | 李 剑 孙友宝 马晓玲 陈建立 黄涛宏 谷口 理 端 裕树 |
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| 作者单位： | 岛津全球应用技术支持中心 上海 200052;岛津全球应用技术支持中心 上海 200052;岛津全球应用技术支持中心 上海 200052;岛津全球应用技术支持中心 上海 200052;岛津全球应用技术支持中心 上海 200052;岛津制作所全球应用开发中心 日本京都 604-8511;岛津全球应用技术支持中心 上海 200052 |
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| 摘 要： | 采用氢氟酸微波消解法前处理氧化锆材料,使用氢氟酸进样系统,不需要赶酸直接测定GBW06602氧化锆标准样品中的多元素含量,根据样品情况确定了最佳分析条件和最佳分析谱线。实验结果表明,测定元素线性关系及重复性良好,定量准确,可同时测定氧化锆中的多种金属元素,该方法检出限低,精密度高,分析结果与标准值相吻合,完全满足氧化锆中多元素杂质含量的工业分析要求。
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| 关 键 词： | 矿石 氢氟酸直接进样 氧化锆 杂质元素 ICP-AES |
| 收稿时间： | 2013/8/26 0:00:00 |
| 修稿时间： | 9/6/2013 12:00:00 AM |
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