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| 多层黑磷中厚度和应力依赖的能隙变化研究 | |
| 作者姓名： | 琚伟伟 李同伟 雍永亮 孙金锋 |
| 作者单位： | 河南科技大学 |
| 摘 要： | 采用基于密度泛函理论的第一性原理方法研究了单层及多层黑磷晶体的能隙随层数和外加应力的变化.计算结果表明,体系能隙随着层数的增加而减小,当层数增加到10时,二维黑磷的能隙非常接近于其体材料值.层间的相互作用导致的能带劈裂是能隙减小的直接原因.应力对10层黑磷电子结构的影响也被研究.计算表明,压缩应力可以使10层黑磷从半导体转变为金属,而拉伸应力仅对能隙大小产生影响. |
| 关 键 词： | 电子结构 能隙 第一性原理 黑磷 |
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