|
|||||
|
|
| 小角X射线散射技术在高分子表征中的应用 | |
| 作者姓名： | 吕冬 卢影 门永锋 |
| 作者单位： | 中国科学院长春应用化学研究所 高分子物理与化学国家重点实验室 长春 130022 |
| 摘 要： | 小角X射线散射(SAXS)技术是表征高分子材料微观结构的一种重要手段.当X射线穿过材料时,在材料不均一的电子云密度分布作用下,发生散射并形成特定的散射图案,使得我们可以根据特定的模型来反推材料的微观结构,并计算相关结构参数.SAXS特有的对微观结构的统计平均及无损探测使其成为了一种不可或缺的高分子材料微观结构分析手段.... |
| 关 键 词： | 高分子表征 小角X射线散射(SAXS) 片晶 微观结构 |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |