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Cd0.8 Mn0.2 Te晶体生长及结晶质量评价
引用本文:杨波,介万奇,张继军,白旭旭.Cd0.8 Mn0.2 Te晶体生长及结晶质量评价[J].人工晶体学报,2007,36(6):1220-1224.
作者姓名:杨波  介万奇  张继军  白旭旭
作者单位:西北工业大学材料学院,西安,710072
摘    要:采用垂直布里奇曼法生长了尺寸为φ30 mm×120 mm的Cd0.8Mn0.2Te晶锭.采用X射线粉末衍射及X射线双晶摇摆曲线分析了晶体的结构与结晶质量,结果显示所生长的晶体为单一立方闪锌矿结构,半峰宽为47.2aresec,结晶质量良好.采用化学腐蚀方法显示了晶体中的多种缺陷,包括位错,Te夹杂和孪晶.采用光学显微镜,扫描电镜和X射线能谱仪对缺陷形态和分布进行了研究.结果表明,晶体中位错密度在105~106cm-2之间.晶体局部存在Te夹杂相,尺寸为l~5μm.晶体中孪晶主要以共格孪晶存在.并提出了缺陷形成的原因和减少缺陷的方法.

关 键 词:Cd0.8Mn0.2Te  X射线粉末衍射  X射线双晶摇摆曲线  位错  Te夹杂  孪晶  
文章编号:1000-985X(2007)06-1220-05
收稿时间:2007-01-11
修稿时间:2007-05-27

Crystal Growth and Qualitative Properties Evaluation of Cd0.8 Mn0.2 Te
YANG Bo,JIE Wan-qi,ZHANG Ji-jun,BAI Xu-xu.Crystal Growth and Qualitative Properties Evaluation of Cd0.8 Mn0.2 Te[J].Journal of Synthetic Crystals,2007,36(6):1220-1224.
Authors:YANG Bo  JIE Wan-qi  ZHANG Ji-jun  BAI Xu-xu
Abstract:
Keywords:Cd0  8Mn0  2Te
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