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| PSS/PDDA自组装膜形成过程中的临界浓度效应 | |
| 作者姓名： | 陈幼芳 钱锦文 杨平 林贤福 |
| 作者单位： | 1. 浙江大学化学系; 2. 浙江大学高分子科学系, 杭州 310027 |
| 基金项目： | 国家重点基础研究发展计划(973计划);中国科学院资助项目 |
| 摘 要： | Decher等提出的阴阳聚电解质层层组装膜技术(LbL),方便快捷,结构有序,其纳米级可控,可用于生物传感器、杂多酸多层膜修饰电极及天然多糖类功能膜等领域．LbL膜的厚度直接影响其性能,而膜厚度与紫外吸光度(A)成正比．故A是通常用于评价膜厚度的一种简便方法．紫外吸光度与聚电解质溶液浓度(cp)往往呈递增关系,随着溶液中cp的增大,单位面积上吸附聚电解质的量也增加。 |
| 关 键 词： | 自组装膜 聚电解质 高分子浓度 临界浓度 |
| 文章编号： | 0251-0790(2005)04-0787-03 |
| 收稿时间： | 2004-11-30 |
| 修稿时间： | 2004-11-30 |
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