光弹性确定应力强度因子的加权最小二乘法

本文将权矩阵作用于最小二乘法,以此作为从全场条纹图案确定混合型应力强度因子的解法。裂纹尖端附近光弹条纹环对于SIF估算值精确性的影响不是同一水平,如利用一个权矩阵,可以改进光弹性法的实验结果。