LP-MOCVD生长(ZnCdTe,ZnSeTe)/ZnTe复合量子阱的激子发光研究 |
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引用本文: | 王晓华,单崇新,张振中,张吉英,范希武,吕有明,刘益春,申德振.LP-MOCVD生长(ZnCdTe,ZnSeTe)/ZnTe复合量子阱的激子发光研究[J].发光学报,2003,24(4):371-374. |
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作者姓名: | 王晓华 单崇新 张振中 张吉英 范希武 吕有明 刘益春 申德振 |
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作者单位: | 1. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,激发态物理重点实验室,吉林,长春,130033;长春理工大学,高功率半导体激光国家重点实验室,吉林,长春,130022 2. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,激发态物理重点实验室,吉林,长春,130033 |
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基金项目: | 国家攀登计划,国家自然科学重大基金(69896260),中科院创新工程,中科院百人计划,国家自然科学基金资助项目 |
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摘 要: | 用低压金属有机化学气相沉积(LP-MOCVD)的方法在GaAs(100)衬底上生长了(ZnCdTe,ZnSeTe)/ZnTe复合量子阱结构。测量了生长样品的光致发光(PL)谱,得到两个发光峰(记为Il,I2),分析认为高能侧的峰为Zn0.9Cd0.1Te浅阱峰,而低能侧的峰为ZnSe0.2Te0.8深阱层的发射。对样品进行了变激发强度的PL谱测量,当激发强度增加时,PL谱中两个发光峰的比值(I2/I1)开始时迅速增加,然后缓慢减小。这是由于浅阱中的电子和空穴隧穿入深阱中导致空间电荷的分离,从而在复合量子阱结构中产生了一个内建电场所引起的。
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关 键 词: | LP-MOCVD 复合量子阱 低压金属有机化学气相沉积 光致发光谱 激子发光 半导体材料 (ZnCdTe,ZnSeTe)/ZnTe 隧穿几率 |
文章编号: | 1000-7032(2003)04-0371-04 |
Photoluminescence of (ZnCdTe,ZnSeTe)/ZnTe Quantum Wells Grown by LP-MOCVD |
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Abstract: | |
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Keywords: | complex quantum well tunneling rate photoluminescence spectra |
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