常规X射线衍射仪上EXAFS测定

扩展X射线吸收精细结构技术是研究近邻结构的有效方法。用这种技术我们可以获得有关原子间距,配位数及均方原子偏离等有关信息。本文描述了一种测定EXAFS的装置。这种装置可以做为一种附件安装在常规2千瓦的X射线衍射仪上。通过采用弯晶单色器,他们得到比用12千瓦旋转阳极X射线衍射所得的更高的强度。通过样品前的X射线强度是大约为1×10~5计数/秒。本文讨论了装置的原理,结构,调整方法和应用实例,以及方法的优缺点。