微波器件HPM效应 |
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引用本文: | 王艳,马弘舸,孟凡宝,蔡武川,李科,曹学军,冯仕云,陈冀,赵刚,谢苏隆.微波器件HPM效应[J].工程物理研究院科技年报,2004(1):195-196. |
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作者姓名: | 王艳 马弘舸 孟凡宝 蔡武川 李科 曹学军 冯仕云 陈冀 赵刚 谢苏隆 |
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摘 要: | 高功率微波(HPM)效应实验系统由微波辐射源、效应物和监测系统等组成。微波源产生并辐射电磁波,实验中的微波辐射源分为窄带微波源和超宽谱(UWB)源两种。实验效应物包括低噪高放、TR管、限幅器、混频器和微波组件——被动雷达探测系统RF装置等。详细介绍了这些微波器件和微波组件的基本组成、特性、工作原理和性能,同时介绍了不同效应物的实验系统、实验方法、效应现象和损伤判据。监测系统对目标状态、辐射源状态进行监视,在注入实验中对效应物的注入功率进行测量,在辐照实验中对目标附近的辐射场进行测试标定,为实验结果的分析提供数据。为避免损伤累积效应,损伤实验注入脉冲次数不超过4次。
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关 键 词: | 微波器件 HPM 微波辐射源 实验系统 高功率微波 雷达探测系统 损伤判据 监测系统 |
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