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透明KTN薄膜的PLD法制备及其铁电性能研究
引用本文:王晓东,彭晓峰,张端明.透明KTN薄膜的PLD法制备及其铁电性能研究[J].化学物理学报,2005,18(4):599-604.
作者姓名:王晓东  彭晓峰  张端明
作者单位:清华大学热能工程系相变与界面传递现象实验室 北京100084 (王晓东,彭晓峰),华中科技大学物理系 武汉430074(张端明)
摘    要:用Sol Gel法制备KTN多晶粉末,在富氧气氛下烧结富钾KTN陶瓷,代替KTN单晶作为靶材,用PLD技术结合后期退火技术,在透明石英单晶(100)上制备出高取向的透明KTN薄膜,对薄膜厚度、折射率、伏~安(I~V)特性、介电特性进行了测试与分析.I~V特性表明,低电场强度下,I~V服从欧姆定律,高电场强度下,I~V服从平方关系,可用空间电荷限制电流模型解释.电容~测试电场频率(C~F)特性表明,低频电容色散大,高频色散小,10kHz时介电常数为12600.

关 键 词:PLD  KTN  薄膜  石英单晶
收稿时间:2004/7/12 0:00:00

Ferroelectric Properties of Transparent KTN Thin Film Produced by Pulsed Laser Deposition
Wang Xiaodong,Peng Xiaofeng and Zhang Duanming.Ferroelectric Properties of Transparent KTN Thin Film Produced by Pulsed Laser Deposition[J].Chinese Journal of Chemical Physics,2005,18(4):599-604.
Authors:Wang Xiaodong  Peng Xiaofeng and Zhang Duanming
Institution:Wang Xiaodong~a*,Peng Xiaofeng~a,Zhang Duanming~b
Abstract:
Keywords:PLD  KTN  Thin film  Single crystal quartz
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