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光学材料微缺陷引起的损伤机理及后处理
引用本文:
柴立群,许乔,胡建平,周礼书,王毅,石琦凯.光学材料微缺陷引起的损伤机理及后处理[J].工程物理研究院科技年报,2004(1):173-174.
作者姓名:
柴立群
许乔
胡建平
周礼书
王毅
石琦凯
摘 要:
采用时域有限差分方法(FDTD)进行元件表面微结构电磁场分布的数值模拟;同时实验分析了化学湿法刻蚀对光学元件表面面形及粗糙度、激光损伤阈值等的影响。
关 键 词:
损伤机理
光学材料
后处理
微缺陷
时域有限差分方法
激光损伤阈值
光学元件
电磁场分布
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