首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

全谱直流电弧发射光谱法同时测定钼样品中17种杂质元素
作者姓名:吴冬梅  赵燕秋  付国余  曲红静
作者单位:北京北分瑞利分析仪器集团有限责任公司,北京北分瑞利分析仪器集团有限责任公司,北京北分瑞利分析仪器集团有限责任公司,北京北分瑞利分析仪器集团有限责任公司
摘    要:为了解决现有测定方法中样品前处理复杂、测定过程繁琐的问题,研究了直流电弧发射光谱法测定钼样品中Al、Bi、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、Pb、Sb、Si、Sn、Ti、V等17种元素的方法。用石墨粉(98%)、碳酸钠(1%)和氟化钠(1%)作为光谱缓冲剂抑制基体元素蒸发、稳定弧焰、促进杂质元素的蒸发;采用样品装满电极后下压2 mm和滴加蔗糖乙醇水溶液(2%)的方式,防止喷溅的发生,稳定激发过程,减小基体干扰;对挥发难易程度不同的元素采用信号分段采集的方式,提高各元素信噪比。方法灵敏度高、分析速度快、操作简便,加标回收率为85%~120%,各元素分析精密度均小于15%。

关 键 词:直流电弧发射光谱法    光谱缓冲剂  分段采集
收稿时间:2019-08-28
修稿时间:2019-09-17
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
点击此处可从《中国无机分析化学》浏览原始摘要信息
点击此处可从《中国无机分析化学》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号