全谱直流电弧发射光谱法同时测定钼样品中17种杂质元素 |
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作者姓名: | 吴冬梅 赵燕秋 付国余 曲红静 |
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作者单位: | 北京北分瑞利分析仪器集团有限责任公司,北京北分瑞利分析仪器集团有限责任公司,北京北分瑞利分析仪器集团有限责任公司,北京北分瑞利分析仪器集团有限责任公司 |
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摘 要: | 为了解决现有测定方法中样品前处理复杂、测定过程繁琐的问题,研究了直流电弧发射光谱法测定钼样品中Al、Bi、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、Pb、Sb、Si、Sn、Ti、V等17种元素的方法。用石墨粉(98%)、碳酸钠(1%)和氟化钠(1%)作为光谱缓冲剂抑制基体元素蒸发、稳定弧焰、促进杂质元素的蒸发;采用样品装满电极后下压2 mm和滴加蔗糖乙醇水溶液(2%)的方式,防止喷溅的发生,稳定激发过程,减小基体干扰;对挥发难易程度不同的元素采用信号分段采集的方式,提高各元素信噪比。方法灵敏度高、分析速度快、操作简便,加标回收率为85%~120%,各元素分析精密度均小于15%。
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关 键 词: | 直流电弧发射光谱法 钼 光谱缓冲剂 分段采集 |
收稿时间: | 2019-08-28 |
修稿时间: | 2019-09-17 |
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