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| 用于X射线时空分辨测量的弯晶谱仪 | |
| 作者姓名： | 熊先才 钟先信 肖沙里 钱家渝 |
| 作者单位： | 1. 重庆大学测量工程系,重庆,400030 2. 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400030 |
| 基金项目： | 国家863高技术资助项目(863 804 3) |
| 摘 要： | 为了测量激光聚变产生的0.2～0.37nm范围内的等离子体X射线,设计了一种基于空间和时间分辨的聚焦型弯晶谱仪.将在700℃时弯曲后的LiF(2d＝0.403nm)晶体作为色散元件,布喇格衍射角的变化范围为30～67.5°,弯晶粘贴在离心率和焦距分别为0.9586和1350mm的椭圆形不锈钢基底上.利用弯晶谱仪配X光CCD相机在星光Ⅱ激光(0.35μm,60～80J,700ps)装置上摄取了钛平面靶发射的X射线光谱,实验结果表明它的光谱分辨率能达到0.001nm. |
| 关 键 词： | 弯晶谱仪 |
| 收稿时间： | 2004-03-23 |
| 修稿时间： | 2004-03-23 |
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