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| 一种简便的研究一维光子晶体禁带特征的新方法 | |
| 作者姓名： | 刘启能 |
| 作者单位： | 1.重庆工商大学 理学院,重庆,400067 |
| 摘 要： | 利用光在一维光子晶体中传播的色散关系,提出了一种禁带边缘分析法,以研究一维光子晶体禁带特征的方法.该方法利用色散关系引入一个确定禁带边缘位置的函数F,F=0为禁带边缘的位置.通过绘出函数F的图线,由F=0确定禁带边缘的位置,进而分析得到禁带和允许带的特征.它避免了常用的特征矩阵法中对反射率复杂的数值计算,并能得到与特征矩阵法相同的结果. |
| 关 键 词： | 光子晶体 禁带宽度 色散关系 简便方法 |
| 文章编号： | 1004-4213（2007）06-1031-4 |
| 收稿时间： | 2006-01-16 |
| 修稿时间： | 2006-01-13 |
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