|
|||||
|
|
| 光锥与CCD耦合效率的理论分析 | |
| 作者姓名： | 王耀祥 田维坚 黄琨 张薇 汪丽 |
| 作者单位： | (中国科学院西安光学精密机械研究所光纤与集成光学研究室, ),西安,710068 |
| 基金项目： | 所长基金资助项目 (40 0 0 10 42 ) |
| 摘 要： | 光锥与CCD的耦合技术是研制ICCD图像传感器的关键技术,本文主要从理论上分析并讨论了光锥与CCD耦合器件的耦合效率及其影响因素,进一步分析讨论了耦合效率对耦合器件信噪比的影响.证明了光锥与CCD的耦合效率不仅降低ICCD探测效率而且降低ICCD信噪比,并提出了提高光锥与CCD耦合效率的方法和途径. |
| 关 键 词： | 光锥 CCD 耦合效率 信噪比 |
| 收稿时间： | 2003-04-30 |
| 修稿时间： | 2003-04-30 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
| 点击此处可从《光子学报》浏览原始摘要信息 | |
| 点击此处可从《光子学报》下载全文 | |