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Depth Profiling (ICP-MS) Study of Trace Metal ‘Grains’ in Solid Asphaltenes
引用本文:Pillay AE,Bassioni G,Stephen S,Kühn FE.Depth Profiling (ICP-MS) Study of Trace Metal ‘Grains’ in Solid Asphaltenes[J].Journal of The American Society for Mass Spectrometry,2011,22(8):1403-1408.
作者姓名:Pillay AE  Bassioni G  Stephen S  Kühn FE
摘    要:

收稿时间:4 December 2010
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