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靶与衬底之间的距离对ZnO∶Zr透明导电薄膜性能的影响
引用本文:张化福,陈钦生,刘汉法. 靶与衬底之间的距离对ZnO∶Zr透明导电薄膜性能的影响[J]. 人工晶体学报, 2010, 39(6)
作者姓名:张化福  陈钦生  刘汉法
摘    要:
利用直流磁控溅射法在室温玻璃衬底上制备出了可见光透过率高、电阻率低的掺锆氧化锌(ZnO∶Zr)透明导电薄膜。并系统地研究了靶与衬底之间的距离对ZnO∶Zr薄膜结构、形貌、光学及电学性能的影响。实验结果表明,靶与衬底之间的距离对ZnO∶Zr薄膜的生长速率、结晶质量及电学性能有很大影响,而对其光学性能影响不大。实验制备的ZnO∶Zr为六方纤锌矿结构的多晶薄膜,且具有垂直于衬底方向的c轴择优取向。当靶与衬底之间的距离从60 mm减小到50 mm时,薄膜的晶化程度提高、晶粒尺寸增大,薄膜的电阻率减小;然而,当距离继续减小时,薄膜的晶化程度降低、晶粒尺寸减小,薄膜的电阻率增大。当靶与衬底之间的距离为50 mm时,薄膜的电阻率达到最小值4.2×10-4Ω.cm,其可见光透过率超过95%。实验制备的ZnO∶Zr薄膜可以用作薄膜太阳能电池和液晶显示器的透明电极。

关 键 词:靶与衬底之间的距离  ZnO:Zr  透明导电薄膜  磁控溅射

Effect of Target-to-substrate Distance on the Properties of Zirconium-doped Zinc Oxide Transparent Conductive Films
ZHANG Hua-fu,CHEN Qin-sheng,LIU Han-fa. Effect of Target-to-substrate Distance on the Properties of Zirconium-doped Zinc Oxide Transparent Conductive Films[J]. Journal of Synthetic Crystals, 2010, 39(6)
Authors:ZHANG Hua-fu  CHEN Qin-sheng  LIU Han-fa
Abstract:
Keywords:
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