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| 随机表示和次序约束下的混量与混料均匀设计 | |
| 作者姓名： | 田国梁 方开泰 |
| 作者单位： | (1) 中国科学院应用数学研究所 北京100080 (2) 香港浸会大学数学系 香港 |
| 摘 要： | 考虑 3种区域 :A型区域 ,V型区域和T型区域 ,其中A型区域同可靠性增长分析、次序约束的统计推断及保序回归理论紧密相联 ;V型区域同混量均匀设计相联 ;T型区域同混料均匀设计相联 .利用 [0 ,1 ]区间上的均匀分布、指数分布和Beta分布的次序统计量 ,对这 3种区域上的均匀分布获得了它们的随机表示 .用这些随机表示 ,可以产生相应区域上的数论网和均匀设计 .该方法称为次序统计量方法 .用两个关于可靠性增长分析和均匀设计的例子对这一方法作了说明 . |
| 关 键 词： | 偏差 混料试验设计 保序回归 保序约束 MonteCarlo优化 均匀设计 |
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