| 铁磁Pr1-xSrxMnO3外延薄膜的输运性质与负磁电阻行为 |
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| 引用本文： | 熊光成,吴思诚,戴道生,章蓓,刘尊孝,连贵君,甘子钊.铁磁Pr1-xSrxMnO3外延薄膜的输运性质与负磁电阻行为[J].中国科学A辑,1996,39(8):722-728. |
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| 作者姓名： | 熊光成 吴思诚 戴道生 章蓓 刘尊孝 连贵君 甘子钊 |
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| 作者单位： | (1) 北京大学物理系 北京100871
(2) 介观物理国家重点实验室北京100871
(3) 国家超导重点实验室北京100081 |
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| 摘 要： | 利用脉冲激光淀积法生长了外延Pr1-xSrxMnO3薄膜(其中x=0.1,0.2,0.3,和0.4).测量了薄膜样品在零场中与外加磁场下电阻率随温度的变化.对X≥0.2的样品在磁场下观察到负磁电阻效应.在logρ-l/T的坐标中,零磁场下的数据在很宽的温区显现很好的线性关系,具有热激活载流于输运特征.由实验数据线性拟合得到在样品成分0.1≤ X≤0.3范围的热激活能约为0.1eV.从对掺杂锰氧化物的电子结构分析出发,对这一材料的绝缘-金属相变,输运性质和负磁电阻行为进行了讨论.
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| 关 键 词： | 掺杂锰氧化物 负磁电阻效应 外延铁磁薄膜 |
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