基于主元分析的干涉仪相移器校准方法 |
| |
引用本文: | 徐建程,候园园,陈曌.基于主元分析的干涉仪相移器校准方法[J].光子学报,2016(1):75-79. |
| |
作者姓名: | 徐建程 候园园 陈曌 |
| |
作者单位: | 浙江师范大学信息光学研究所,浙江金华,321004 |
| |
基金项目: | 国家自然科学青年基金项目(No.61205163)和欧盟玛丽居里IIF项目(No.301807)资助 The National Natural Science Foundation of China(No.61205163)and Marie Curie International Incoming Fellowships (No.301807) by the Research Executive Agency of the European Commission |
| |
摘 要: | 利用主元分析从一组干涉图中提取相位和相移量,得到相移量与驱动电压之间的对应关系,从而实现压电陶瓷相移器的非线性校准.模拟结果表明:主元分析法计算相移量的误差随着干涉图中条纹根数的增多而减小;当干涉图中条纹根数多于0.25时,相移量计算误差小于0.1664rad.实验结果表明:相移量计算误差是周期分布,对相移器校准准确度影响小.该方法无需迭代计算,且对干涉图中条纹根数没有严格要求,因此是一种高效且实用的校准方法.
|
关 键 词: | 干涉测量 条纹分析 主元分析 压电陶瓷相移器 相移技术 |
Phase-shifting Calibrating Method Based on Principle Component Analysis in Interferometer |
| |
Abstract: | |
| |
Keywords: | Interferometry Fringe analysis Principle component analysis Piezoelectric ceramic transducer Phase shifting techniques |
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录! |