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| γ射线辐照LiF晶体中辐照缺陷的X射线黄昆漫散射实验测量 | |
| 作者姓名： | 姜晓明 吴自勤 钱临照 |
| 作者单位： | 中国科学技术大学基础物理中心 |
| 摘 要： | 采用有前单色器的普通X射线衍射仪,分别用微分和积分方法测量了γ射线辐照LiF晶体中缺陷集团的黄昆漫散射。黄昆漫散射的分布表明,LiF晶体中辐照缺陷集团的应变场接近于各向同性。
关键词： |
| 关 键 词： | LiF晶体 辐照缺陷 黄昆散射 测量 |
| 收稿时间： | 1988-02-24 |
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