| 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镁及镁合金中硅含量 |
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| 引用本文： | 梅坛,陶美娟,鄢国强.电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镁及镁合金中硅含量[J].理化检验(化学分册),2009,45(5). |
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| 作者姓名： | 梅坛 陶美娟 鄢国强 |
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| 作者单位： | 上海材料研究所检测中心,上海,200437
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| 摘 要： | 用硝酸及少量氢氟酸可将试样完全溶解,所得溶液可用于电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)或钼蓝分光光度法测定镁和镁合金中的硅含量,对ICP-AES测定硅的分析条件作了试验.为避免各共存元素的干扰,方法中选择波长为Si Ⅰ 251.611 nm及Si Ⅰ 212.412 nm的谱线作为分析谱线.在制作工作曲线时加入与待测样品等量的镁以补偿基体组分引起的基体效应,在选用上述两谱线作为分析线时,硅的质量浓度在40.0 mg·L-1以内时与谱线的发射强度均呈线性关系,所得检出限(3S/N)依次为6.2和15μg·L-1.应用此方法分析了3种镁合金标准样品,所得结果与标准值相符.
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| 关 键 词： | 电感耦合等离子体原子发射光谱法 硅 镁及镁合金 |
ICP-AES Determination of Silicon in Magnesium and Magnesium Alloys |
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| MEI Tan,TAO Mei-juan,YAN Guo-qiang.ICP-AES Determination of Silicon in Magnesium and Magnesium Alloys[J].Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analgsis,2009,45(5). |
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| Authors: | MEI Tan TAO Mei-juan YAN Guo-qiang |
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