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Cu吸附(SiO_2)_n(n=1—8)团簇几何结构和电子性质的密度泛函研究
引用本文:孙建敏,赵高峰,王献伟,杨雯,刘岩,王渊旭. Cu吸附(SiO_2)_n(n=1—8)团簇几何结构和电子性质的密度泛函研究[J]. 物理学报, 2010, 59(11)
作者姓名:孙建敏  赵高峰  王献伟  杨雯  刘岩  王渊旭
作者单位:河南大学计算材料科学研究所,开封,475004
摘    要:
运用密度泛函理论下的广义梯度近似和交换关联函数对Cu吸附(SiO2)n(n=1—8)团簇的几何结构、电荷分布、稳定性和电子性质进行了较详细的研究,结果表明:Cu原子易于和带有悬挂键的Si原子作用并形成"铜岛膜";Cu吸附(SiO2)n团簇后Si原子失去电子能力减弱,O原子得到电子能力增强;Cu(SiO2)n(n=1—8)团簇与(SiO2)n(n=1—8)主体团簇稳定性上具有相似性,吸附Cu后团簇能隙明显降低,并接近近红外区域.

关 键 词:密度泛函理论  Cu(SiO2)n(n=1-8)团簇  近红外吸收

Study of structural and electronic properties of Cu-adsorbed (SiO2)n(n=1-8) clusters with the DFT
Sun Jian-Min,Zhao Gao-Feng,Wang Xian-Wei,Yang Wen,Liu Yan,Wang Yuan-Xu. Study of structural and electronic properties of Cu-adsorbed (SiO2)n(n=1-8) clusters with the DFT[J]. Acta Physica Sinica, 2010, 59(11)
Authors:Sun Jian-Min  Zhao Gao-Feng  Wang Xian-Wei  Yang Wen  Liu Yan  Wang Yuan-Xu
Abstract:
Keywords:
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