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| 液晶小预倾角测试的数值分析 | |
| 引用本文： | 朱鹤年,杜天良,王新久.液晶小预倾角测试的数值分析[J].液晶通讯,1993,1(4):29-34. |
| 作者姓名： | 朱鹤年 杜天良 王新久 |
| 作者单位： | [1]清华大学现代应用物理系 [2]北京市液晶工程技术中心 |
| 摘 要： | 用晶体旋光法测量液晶薄层的预顺角，文献1]介绍了测出光强透过率曲线T(i)，据“对称”极值点ix由a=1/2Arcsin 2nosinix/(nx no)(n^20-sin^ix)的平方根]计算出α。 |
| 关 键 词： | 液晶 极值点 晶体 光强 透过率 预倾角 数值分析 测试 薄层 |
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