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Experimental characterization and atomistic modeling of interfacial void formation and detachment in short pulse laser processing of metal surfaces covered by solid transparent overlayers
Authors:Eaman T. Karim  Maxim V. Shugaev  Chengping Wu  Zhibin Lin  Hisashi Matsumoto  Maria Conneran  Jan Kleinert  Robert F. Hainsey  Leonid V. Zhigilei
Abstract:
Keywords:
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