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| ICP-AES中基体干扰效应及其机理研究——Ⅰ.基体干扰效应的一般分布规律 | |
| 引用本文： | 孙大海,张展霞,贺柏龄,李劲枝,何平.ICP-AES中基体干扰效应及其机理研究——Ⅰ.基体干扰效应的一般分布规律[J].光谱学与光谱分析,1993(2). |
| 作者姓名： | 孙大海 张展霞 贺柏龄 李劲枝 何平 |
| 作者单位： | 中山大学化学系,中山大学化学系,广东进出口商品检验局,广东进出口商品检验局,广东进出口商品检验局 510275 广州,510275 广州,510060 广州,510060 广州,510060 广州 |
| 摘 要： | 本文以Na、ca、Al、Zn作为主要基体元素,在不同ICP发射光谱仪上考察了20多条分析谱线受到的干扰情况,初步总结了基体干扰效应的一般规律。结果表明,在常用分析条件下,一般金属元素具有与易电离元素类似的基体效应,即在较低观察区域对测定谱线信号产生增感,而在正常观察区域产生抑制;从增感转向抑制的零干扰点主要出现在感应圈上方8～14mm的观察区域,这一结果为实际分析条件的优化提供了有益的依据。 |
| 关 键 词： | ICP-AES 基体效应 干扰 |
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