| 德摩根一致代数的度量化 |
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| 引用本文： | 李庆国,陈学友,邓自克.德摩根一致代数的度量化[J].数学理论与应用,2003,23(2):9-12. |
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| 作者姓名： | 李庆国 陈学友 邓自克 |
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| 作者单位： | 湖南大学数学与计量学院，湖南大学数学与计量学院，湖南大学数学与计量学院 长沙，410082，长沙，410082，长沙，410082 |
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| 摘 要： | 我们给出了德摩根一致代数可伪度量化的一个充分必要条件。
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| 关 键 词： | 德摩根一致代数 伪度量 完备格 逆序对合对应 可数基 |
Metrization in De Morgan algebra of Uniformity |
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| Li Qing guo Chen Xueyou Deng Zike.Metrization in De Morgan algebra of Uniformity[J].Mathematical Theory and Applications,2003,23(2):9-12. |
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| Authors: | Li Qing guo Chen Xueyou Deng Zike |
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| Abstract: | We give a sufficient and necessary condition for a De morgan algebra of Uniformity to be pseudo-metrizable. |
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| Keywords: | Uniformity Countable base Pseudo-metric |
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