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60Co γ-射线辐照对肖特基二极管1/f噪声的影响
引用本文:杨丽侠,杜 磊,包军林,庄奕琪,陈晓东,李群伟,张 莹,赵志刚,何 亮.60Co γ-射线辐照对肖特基二极管1/f噪声的影响[J].物理学报,2008,57(9):5869-5874.
作者姓名:杨丽侠  杜 磊  包军林  庄奕琪  陈晓东  李群伟  张 莹  赵志刚  何 亮
作者单位:(1)西安电子科技大学技术物理学院,西安 710071; (2)西安电子科技大学微电子学院,西安 710071
基金项目:国家自然科学基金(批准号:60676053)和西安应用材料创新基金(批准号:XA-AM-200603)资助的课题.
摘    要:在肖特基二极管(Schottky barrier diode,SBD)辐照损伤机理和总剂量效应分析的基础上,利用1/f噪声的迁移率涨落和载流子数涨落模型,深入研究辐照损伤对器件1/f噪声的影响. 研究结果表明,辐照诱生新的界面态,改变界面态密度分布,进而调制了肖特基势垒高度,增大表面复合速度是引起器件性能退化主要原因,也是1/f噪声剧烈增加的主要原因. 正因为如此,噪声与器件退化存在相关性,即噪声拟合参数B越大,偏离标准值越多,器件可靠性越差,抗辐照 关键词: 肖特基二极管 f噪声')" href="#">1/f噪声 60Co γ射线')" href="#">60Co γ射线 界面态

关 键 词:肖特基二极管  1/f噪声  60Co  γ射线  界面态
收稿时间:2007-10-10
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