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Tecnai G20透射电镜高压故障的排除与维修
引用本文:张峰,诸葛兰剑,高伟建.Tecnai G20透射电镜高压故障的排除与维修[J].分析测试技术与仪器,2012,18(3):194-195.
作者姓名:张峰  诸葛兰剑  高伟建
作者单位:苏州大学 分析测试中心,江苏 苏州 215123
摘    要:介绍了SF6绝缘气体分解引发的电子枪高压故障的查找和排除方法,以及Tecnai G20透射电镜日常维护的一些经验与体会。

关 键 词:透射电镜    高压    故障
收稿时间:6/2/2012 12:00:00 AM
修稿时间:2012/6/20 0:00:00

Checking and Maintenance of HV Troubleshooting in Tecnai G20 TEM
ZHANG Feng,ZHUGE Lan-jian and GAO Wei-jian.Checking and Maintenance of HV Troubleshooting in Tecnai G20 TEM[J].Analysis and Testing Technology and Instruments,2012,18(3):194-195.
Authors:ZHANG Feng  ZHUGE Lan-jian and GAO Wei-jian
Institution:Analysis and Testing Center, Soochow University, Suzhou 215123,China
Abstract:The checking and removal methods for the HV troubleshooting caused by SF6 decomposition, and some experiences in daily maintenance on Tecnai G20 TEM are introduced.
Keywords:TEM  HV  troubleshooting
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