| 两种测试高温超导薄膜微波表面电阻方法的讨论 |
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| 引用本文： | 何建,罗正祥,张其劭. 两种测试高温超导薄膜微波表面电阻方法的讨论[J]. 低温与超导, 2005, 33(1): 53-56 |
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| 作者姓名： | 何建 罗正祥 张其劭 |
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| 作者单位： | 电子科技大学电子工程研究所,成都,610054;电子科技大学电子工程研究所,成都,610054;电子科技大学电子工程研究所,成都,610054 |
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| 摘 要： | 介绍两种工作在12GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻Rs测试系统,并分析各自的特点.同时简介电子科技大学在提高Rs测试精度上所作的一些改进.
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| 关 键 词： | 高温超导薄膜 微波表面电阻 介质谐振器 品质因数 |
| 修稿时间： | 2004-08-25 |
Two Kinds of Measurement Method of Microwave Surface Resistance of High Tc Superconductive Thin Films |
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| He Jian,Luo Zhengxiang,Zhang Qishao. Two Kinds of Measurement Method of Microwave Surface Resistance of High Tc Superconductive Thin Films[J]. Cryogenics and Superconductivity, 2005, 33(1): 53-56 |
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| Authors: | He Jian Luo Zhengxiang Zhang Qishao |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | high temperature superconductive thin film microwave surface resistance dielectric resonator quality factor |
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