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CVD法制备高质量ZnO纳米线及生长机理
引用本文:唐斌,邓宏,税正伟,陈金菊,韦敏. CVD法制备高质量ZnO纳米线及生长机理[J]. 人工晶体学报, 2007, 36(2): 293-296
作者姓名:唐斌  邓宏  税正伟  陈金菊  韦敏
作者单位:电子科技大学微电子与固体电子学院,成都,610054;西南石油大学理学院,成都,610500;电子科技大学微电子与固体电子学院,成都,610054;西南石油大学理学院,成都,610500
基金项目:国家自然科学基金;四川省应用基础研究计划;国家预研基金
摘    要:
以金做催化剂,采用化学气相沉积(CVD)方法在Si(100)衬底上生长了整齐紧密排列的ZnO纳米线.XRD图谱上只有ZnO的(002)衍射峰,说明ZnO纳米线沿[001]择优生长;扫描电子显微镜分析表明:ZnO纳米线整齐排列在Si(100)衬底上,直径在100nm左右,平均长度为4μm.研究发现ZnO纳米线的生长机理与传统的V-L-S机理有所不同:生长过程中,在Si(100)衬底上先生长了大约500nm厚的ZnO薄膜,而ZnO纳米线生长在薄膜之上.

关 键 词:ZnO纳米线  ZnO薄膜  CVD  V-L-S机理
文章编号:1000-985X(2007)02-0293-04
修稿时间:2006-08-01

Preparation and Growth Mechanism of Well-aligned ZnO Nanowires by Chemical Vapor Deposition
TANG Bin,DENG Hong,SHUI Zheng-wei,CHEN Jin-ju,WEI Min. Preparation and Growth Mechanism of Well-aligned ZnO Nanowires by Chemical Vapor Deposition[J]. Journal of Synthetic Crystals, 2007, 36(2): 293-296
Authors:TANG Bin  DENG Hong  SHUI Zheng-wei  CHEN Jin-ju  WEI Min
Affiliation:1. School of Microelectronics and Solid-state Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China ; 2. School of Science, Southwest Petroleum University, Chengdu 610500, China
Abstract:
Keywords:CVD
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