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用分子自由振动固有频率预测阴离子表面活性剂临界胶束浓度
引用本文:仇明华,曹晨忠,赵立刚,罗娟. 用分子自由振动固有频率预测阴离子表面活性剂临界胶束浓度[J]. 应用化学, 2004, 21(3): 276-0
作者姓名:仇明华  曹晨忠  赵立刚  罗娟
作者单位:湖南科技大学
基金项目:湖南省重点学科资助项目 (湘教通 [2 0 0 1] 179号 )
摘    要:
用分子自由振动固有频率预测阴离子表面活性剂临界胶束浓度;CMC;QSPR

关 键 词:用分子自由振动固有频率预测阴离子表面活性剂临界胶束浓度  CMC  QSPR  
文章编号:1000-0518(2004)03-0276-05
收稿时间:2009-06-29
修稿时间:2003-04-08

Prediction of Critical Micelle Concentration of Anionic Surfactants From the Inherent Frequency of Molecular Free Vibration
QIU Ming-Hua,CAO Chen-Zhong,ZHAO Li-Gang,LUO Juan. Prediction of Critical Micelle Concentration of Anionic Surfactants From the Inherent Frequency of Molecular Free Vibration[J]. Chinese Journal of Applied Chemistry, 2004, 21(3): 276-0
Authors:QIU Ming-Hua  CAO Chen-Zhong  ZHAO Li-Gang  LUO Juan
Affiliation:QIU Ming-Hua,CAO Chen-Zhong*,ZHAO Li-Gang,LUO Juan
Abstract:
Keywords:anionic surfactant  critical micelle concentration  inherent frequency  QSPR
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