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基于孤子自频移现象的高比特全光量化仿真研究EI北大核心CSCD
引用本文:吴侃,陈颖,陈向宁,陈建平.基于孤子自频移现象的高比特全光量化仿真研究EI北大核心CSCD[J].光学学报,2015(3):240-247.
作者姓名:吴侃  陈颖  陈向宁  陈建平
作者单位:1.上海交通大学区域光纤通信网与新型光通信系统国家重点实验室200240;2.中国人民解放军装备学院光电装备系101416;
基金项目:上海市扬帆计划(14YF1401600);区域光纤通信网与新型光通信系统国家重点实验室自主研究课题(GKZD030033)
摘    要:探讨了基于孤子自频移(SSFS)效应的高精度全光量化技术。通过仿真分析孤子自频移特性,发现当输入脉冲的脉宽在150 fs时,量化比特位(NOB)可以达到8,对应的有效比特位(ENOB)为7.02。更小的脉宽无法保证量化比特位,而更宽的脉宽则会影响量化函数的线性度,降低有效比特位。150 fs对应的谱宽9.8 nm和平均功率0.92 W(50 GHz的脉冲速率下)也都可以较容易地由已有的光学技术得到。而啁啾会展宽脉宽,显著降低量化比特位和有效比特位,因此需尽量避免。

关 键 词:光纤光学  全光量化  孤子自频移  非线性
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